멘토, 지멘스 비즈니스는 자사의 Tessent™ SiliconInsight™ 제품에 ATE-Connect™ 기술을 사용함으로써 IC 디버깅 및 브링업(bring up) 성능을 향상시킬 수 있게 되었다고 발표했다. ATE-Connect 기술로 구현되는 업계 표준 인터페이스는 특정 테스터용의 독점적인 소프트웨어와 DFT(design-for-test) 플랫폼 간의 통신 장벽을 없애 준다.

이 신기술은 IJTAG 디바이스의 디버깅 속도를 높이고 제품 생산속도를 높일 수 있도록 지원하며, 5G 무선통신, 자율주행 및 인공지능 분야 제품의 출시 시기를 앞당긴다. 또한 테라다인의 UltraFLEX 테스트 솔루션이 PortBridge 기술을 통해 새로운 멘토 인터페이스를 전폭적으로 지원한다.

업계에서 IJTAG(IEEE 1687) 테스트 아키텍처가 칩 수준의 테스트에 널리 채택되고 있음에도 불구하고, 많은 기업들이 칩 수준의 테스트 패턴을 테스터 포맷으로 변환하는 데 있어서는 물론 자동 테스트 장비(ATE)에서의 테스트 디버깅에 있어서도 매우 상이한 접근 방법을 유지하고 있다.

이 때문에 각각의 특정 칩마다 DFT 엔지니어가 테스트 패턴을 작성한 뒤 이를 테스트 엔지니어가 변환하여 각 테스터 유형에 대한 각각의 시나리오를 디버깅해야만 한다.

테스트 엔지니어는 대개 하위 레벨의 세부적인 수준에서 클럭 사이클을 이용해 작업하는 반면, DFT 엔지니어는 보다 상위 레벨에서 IJTAG을 이용해 작업한다. 이들이 사용하는 툴과 기법 간의 차이는 칩을 가장 효율적으로 디버깅하는 방법에 대해 혼란을 가져와 IC 제품의 수명주기에 커다란 지연을 초래할 수 있다.

멘토 ATE-Connect 기술은 TCP/IP 네트워크 프로토콜을 이용해IJTAG 명령을 테스트 대상 디바이스(DUT)에 제공하고 ATE 상의 디바이스로부터 데이터를 받는다.

한편으로는 보안에 민감한 설계 정보를 Tessent SiliconInsight 툴의 영역에 유지해 두면서 필요한 스티뮬러스만을 ATE 상의 테스트 대상 디바이스에 제공한다. 고객들은 이 표준 네트워크 통신을 통해 자신들의 기존 보안 네트워크를 이용함으로써 전세계의 테스터들과 매끄럽게 상호 작용할 수 있다.

멘토, 지멘스 비즈니스의 Tessent 제품군 브래디 벤웨어(Brady Benware) 마케팅 디렉터는 “우리 고객들은 실리콘 브링업 문제에 대한 보다 나은 솔루션을 요구했다. IJTAG의 기능과 ATE를 직접 연결시켜 이들의 디버깅 및 특성분석 프로세스에 존재하던 심각한 병목 현상을 없앴다. 고객들은 이 솔루션을 통해 실리콘 브링업을 수 주일이 아닌 수일 내에 달성할 수 있다”고 설명했다.

테라다인 반도체 테스트 부문 SoC 비즈니스 그룹 제이슨 지(Jason Zee) 부사장 및 제너럴 매니저는 “테라다인은 다양한 혁신적 툴과 파트너십을 통해 고객의 생산성 향상 요구에 부응하고 있다. 멘토와의 파트너십은 우리가 고객의 성공을 보장하기 위해 에코시스템 파트너들과 어떻게 협력하고 있는 지를 보여주는 중요한 사례”라고 말했다.